TF lab 系列臺式單點測試設備

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  • TF lab 系列臺式單點測試設備
  • TF lab 系列,允許導電性薄膜和在非接觸模式薄的金屬層的層厚度測量的手動單點測量。緊湊的臺式設備非常適合快速準確地測量最大的樣品。除了測量薄導電層之外,還可以分析摻雜的晶片和導電聚合物。
  • 優勢
  • 非接觸式實時測量

    精確測量導電薄膜

    隱藏和封裝導電層的表征

    測量數據保存和導出功能

  • 測量
  • 薄層電阻

    金屬層厚度測量

    單點測量

    質量控制,輸入和輸出控制

    測量范圍:0.1 mOhm/sq 100 kOhm/sq

  • 應用
  • 涂層建筑玻璃,例如 LowE

    顯示器、觸摸屏和平板顯示器

    OLED LED 應用

    智能玻璃

    石墨烯層

    光伏晶片和電池

    半導體晶片

    金屬化層和晶圓金屬化

    除冰和加熱應用

    電池電極

    導電涂層紙和導電紡織品

  • 類型
  • 薄層電阻測試儀 Ohm/sq、OPS、Ohm per square

    金屬層厚度測試儀 (nm, µm, mil)

    各向異性和薄層電阻測試儀 (MD/TD)

    濕涂層厚度和殘留水分 – HF

    電阻率和電導率測試儀 – (mOhm cm, MS/m)

  • 測量界面
  • TF lab 2020 系列 非接觸式單點薄層測試儀
  • 20211210,星期五
  • 15:02
  • TF lab 2020 系列,允許導電性薄膜和在非接觸模式薄的金屬層的層厚度測量的手動單點測量。緊湊的臺式設備非常適合快速準確地測量最大的樣品。除了測量薄導電層之外,還可以分析摻雜的晶片和導電聚合物。
  • 優勢
  • 非接觸式實時測量

    精確測量導電薄膜

    隱藏和封裝導電層的表征

    測量數據保存和導出功能

  • 測量
  • 薄層電阻

    金屬層厚度測量

    單點測量

    質量控制,輸入和輸出控制

    樣品尺寸:10 x 10 mm² 200 x 200 mm²0.5 x 0.5 英寸到 8 x 8 英寸)

    測量范圍:0.1 mOhm/sq 100 kOhm/sq

  • 應用
  • 涂層建筑玻璃,例如 LowE

    顯示器、觸摸屏和平板顯示器

    OLED LED 應用

    智能玻璃

    石墨烯層

    光伏晶片和電池

    半導體晶片

    金屬化層和晶圓金屬化

    除冰和加熱應用

    電池電極

    導電涂層紙和導電紡織品

  • 軟件和設備控制
  • 非常人性化的軟件

    直觀的觸摸顯示導航

    實時測量薄層電阻和層厚

    軟件輔助手動映射選項

    各種數據保存和導出選項

  • 電阻測試儀參數
  • 基材
  • 箔、玻璃、晶片等
  • 基板面積
  • 8 英寸/204 毫米 x 204 毫米
  • 最大限度。樣品厚度/傳感器間隙
  • 3 / 5 / 10 / 25 毫米(由最厚的樣品定義)
  • 金屬薄膜(例如銅)的厚度測量范圍
  • 2 nm – 2 mm(根據薄層電阻)
  • 設備尺寸 (w/h/d)
  • 11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 毫米 x 140 毫米 x 445 毫米
  • 重量
  • 10公斤
  • 更多可用功能
  • 薄層電阻測量/金屬厚度檢測
  • VLSR
  • LSR
  • MSR
  • HSR
  • VHSR
  • 范圍 [歐姆/平方]
  • 0.0001 – 0.1
  • 0.1 – 10
  • 0.1 – 100
  • 10 – 2000
  • 1,000 – 200,000
  • 精度/偏差
  • ± 1%
  • ± 1 – 3%
  • ± 3 – 5%
  • 重復性 (2σ)
  • < 0.3%
  • < 0.5%
  • < 0.3%
  • * VLSR - 極低薄層電阻,LSR - 低薄層電阻,MSR - 中等薄層電阻,HSR - 高薄層電阻,VHSR - 極高薄層電阻
  • 升級測試
  • 薄層電阻測試儀 Ohm/sq、OPS、Ohm per square

    金屬層厚度測試儀 (nm, µm, mil)

    各向異性和薄層電阻測試儀 (MD/TD)

    濕涂層厚度和殘留水分 – HF

    電阻率和電導率測試儀 – (mOhm cm, MS/m)

  • 測量界面